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Crise d'ébullition : inhibition du détachement de la bulle de vapeur par la force de recul

Published online by Cambridge University Press:  19 November 2004

Vadim S. Nikolayev ,
Daniel Beysens  and
Yves Garrabos
Vadim S. Nikolayev
Affiliation:
ESEME, Service des Basses Températures, CEA Grenoble, France (Adresse postale: CEA-ESEME, PMMH-ESPCI, 10 rue Vauquelin, 75231 Paris Cedex 05, France)
Daniel Beysens
Affiliation:
ESEME, Service des Basses Températures, CEA Grenoble, France (Adresse postale: CEA-ESEME, PMMH-ESPCI, 10 rue Vauquelin, 75231 Paris Cedex 05, France)
Yves Garrabos
Affiliation:
CNRS-ESEME, Institut de Chimie de la Matière Condensée de Bordeaux, 87 Av. du Dr. Schweitzer, 33608 Pessac Cedex, France
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Abstract

La crise d'ébullition est une transition entre deux régimes d'ébullition :ébullition nucléée (la bulle se forme sur la surface chauffante) et ébullition en film (la surface chauffanteest couverte par un film continu de vapeur séparant la surface chauffante du liquide). Dans cettecommunication, nous présentons un modèle physique de la crise d'ébullition basé sur le concept de recul devapeur. Nos simulations numériques de croissance thermiquement contrôlée montrent comment une bulle attachéeà la surface chauffante commence soudainement à s'y étaler, formant le germe d'un film de vapeur. La force derecul de vapeur ne provoque pas seulement l'étalement de la bulle, elle crée également une forceadditionnelle d'adhérence qui empêche le départ de la bulle de la surface chauffante lors de sa croissance.Près du point critique liquide-vapeur, la croissance de la bulle est très lente. Si, de plus, des conditionsde microgravité sont remplies, la bulle garde la forme convexe et il est possible d'observerexpérimentalement une augmentation de l'angle apparent de contact ainsi que la croissance de la tache sèche.Ces observations confirment l'explication proposée.

Keywords

Boiling crisisCHFcritical pointmicrogravityCrise d'ébullitionflux critiquepoint critiquemicrogravité
Type
Research Article
Information
Mechanics & Industry , Volume 5 , Issue 5 , September 2004 , pp. 553 - 558
Copyright
© AFM, EDP Sciences, 2004

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